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        日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)

        產(chǎn)品時間:2025-05-14

        訪問次數(shù):1213

        簡要描述:

        日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
        主要特點
        結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
        以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率
        兼容2英寸至450毫米的硅基板,可任何測量點

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        日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

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        主要特點

         

        • 結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)

        • 以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率

        • 兼容2英寸至450毫米的硅基板,可任何測量點

        F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
        以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板,并且可以任何測量點。
        還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

         

        主要應(yīng)用

        半導(dǎo)體平板薄膜太陽能電池

        抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。
        單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
        各種光學(xué)膜等。
        CdTe、CIGS、非晶硅等
        砷化鋁鎵(AlGaAs)、磷化鎵(GaP)等

        測量示例

        薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強(qiáng)大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點的功能。


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