多功能超聲波測厚儀：
可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得醉佳的性價比。

多功能超聲波測厚儀：

可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得醉佳的性價比。

CMX
除了常規的超聲波測厚儀的功能外，增加了B-掃描功能和多種測量模式，包括：
- 脈沖-回波(P-E)模式，測量材料厚度
- 脈沖-回波涂層(PECT)模式，同時測量材料厚度和涂層厚度
- 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式，測量材料厚度
- 回波-回波(E-E)模式，穿過涂層測量材料厚度
- 回波-回波驗證(E-EV)模式，穿過涂層測量材料厚度

- 測量涂層(CT)模式，只測量涂層厚度

CMXDL
在CMX的超聲波測厚儀基礎上，增加了存儲功能。

CMXDL+
在CMXDL超聲波測厚儀的基礎上，增加了A掃描功能，多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭)，另有彩色屏幕主機可選。

多功能超聲波測厚儀技術參數：

 測量 脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼)

脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率：0.01mm
聲速范圍：309.88～18542m/s
單位：公制或英制
校準：一點和兩點校準方式 顯示 顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素。可視區62x45.7mm，EL背光
B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數
大數字方式：標準厚度顯示，數字高度17.78mm
厚度條形掃描：速度10Hz，在B-掃描和大數字顯示模式中可見
穩定度指示：表示測量值的穩定性
功能狀態指示：顯示當前激活的功能 超聲波參數 測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖：可調方波脈沖發生器
接收：根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制
計時：單次100MHz8位超低功耗數字化儀的經確TCXO計時
脈沖重復頻率：250Hz 探頭 頻率范圍：1~10MHz 
雙晶探頭
LEMO接口，1.2米探頭線
可定制用于特殊應用的探頭 存儲(僅CMXDL) 容量：內置4GB SD卡
數據結構：網格(字母數字)和順序(自動識別)
屏幕捕獲：位圖圖形捕獲，用于快速記錄
數據輸出：通過USB Type-C連接的計算機 其他 鍵盤：12個觸摸鍵
電源：標配為三節5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度：-10～60℃
尺寸：63.5x165x31.5mm
重量：含電池385g 
包裝：ABS工程塑料箱

出廠：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準  

常用探頭：

注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑
在穿透模式下，高阻抗探頭會有更好的表現
表中的測量范圍為脈沖-回波模式測量范圍